Комплексный подход к выявлению латентных технологических дефектов печатных плат на этапах производства РЭА | Статья в журнале «Молодой ученый»

Авторы: , ,

Рубрика: Технические науки

Опубликовано в Молодой учёный №21 (101) ноябрь-1 2015 г.

Дата публикации: 23.10.2015

Статья просмотрена: 21 раз

Библиографическое описание:

Юрков Н. К., Телегин А. М., Калаев М. П. Комплексный подход к выявлению латентных технологических дефектов печатных плат на этапах производства РЭА // Молодой ученый. — 2015. — №21. — С. 233-237. — URL https://moluch.ru/archive/101/22766/ (дата обращения: 14.12.2018).



Статья подготовлена в рамках реализации проекта «Разработка методов и средств создания высоконадежных компонентов и систем бортовой радиоэлектронной аппаратуры ракетно-космической и транспортной техники нового поколения» (Соглашение № 15–19–10037 от 20 мая 2015г.) при финансовой поддержке Российского научного фонда.



Обсуждение

Социальные комментарии Cackle
Задать вопрос