Моделирование развития трещин в проводниках печатных плат как последствий технологических дефектов | Статья в журнале «Молодой ученый»

Авторы: , ,

Рубрика: Технические науки

Опубликовано в Молодой учёный №21 (101) ноябрь-1 2015 г.

Дата публикации: 23.10.2015

Статья просмотрена: 23 раза

Библиографическое описание:

Буц В. П., Телегин А. М., Калаев М. П. Моделирование развития трещин в проводниках печатных плат как последствий технологических дефектов // Молодой ученый. — 2015. — №21. — С. 127-132. — URL https://moluch.ru/archive/101/22762/ (дата обращения: 23.10.2018).

  Статья подготовлена в рамках реализации проекта «Разработка методов и средств создания высоконадежных компонентов и систем бортовой радиоэлектронной аппаратуры ракетно-космической и транспортной техники нового поколения» (Соглашение № 15–19–10037 от 20 мая 2015г.) при финансовой поддержке Российского научного фонда.



Ключевые слова

моделирование, развитие, трещины, латентные дефекты, теория Гриффитса

Обсуждение

Социальные комментарии Cackle
Задать вопрос