доктор технических наук, профессор
Журнал «Молодой ученый»:

Моделирование развития трещин в проводниках печатных плат как последствий технологических дефектов

№21 (101) ноябрь-1 2015 г.

Авторы: Калаев Михаил Павлович, Телегин Алексей Михайлович, Буц Виктор Петрович

Рубрика: Технические науки

Страницы: 127-132

Библиографическое описание: Буц В. П., Телегин А. М., Калаев М. П. Моделирование развития трещин в проводниках печатных плат как последствий технологических дефектов // Молодой ученый. — 2015. — №21. — С. 127-132.

Объем: 0,32 а.л.

Статус: Опубликована

Текст статьи