Журнал «Молодой ученый»:

Роль ускоренных испытаний в определении надежности интегральных схем

№10 (45) октябрь 2012 г.

Авторы: Волков Артем Николаевич

Рубрика: Технические науки

Страницы: 41-52

Библиографическое описание: Волков А. Н. Роль ускоренных испытаний в определении надежности интегральных схем // Молодой ученый. — 2012. — №10. — С. 41-52.

Объем: 0,85 а.л.

Статус: Опубликована

Текст статьи

Международные научные конференции:

Негативное влияние эффектов «горячих» носителей в полевых транзисторах

III международная научная конференция «Технические науки: теория и практика» (Чита, апрель 2016)

Авторы: Волков Артем Николаевич

Рубрика: Технические науки

Секция: 2. Электроника, радиотехника и связь

Страницы: 35-38

Библиографическое описание: Волков А. Н. Негативное влияние эффектов «горячих» носителей в полевых транзисторах [Текст] // Технические науки: теория и практика: материалы III междунар. науч. конф. (г. Чита, апрель 2016 г.). — Чита: Издательство Молодой ученый, 2016. — С. 35-38.

Объем: 0,27 а.л.

Статус: Опубликована

Текст статьи