преподаватель
Актауский транспортный колледж Казахской Академии транспорта и коммуникаций им. М. Тынышпаева (Казахстан)
Журнал «Молодой ученый»:

Анализ отказов и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

№8 (67) июнь-1 2014 г.

Авторы: Килибаева Жанна Кашкынбековна

Рубрика: Спецвыпуск

Страницы: Т.1. 13-16

Библиографическое описание: Килибаева Ж. К. Анализ отказов и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем // Молодой ученый. — 2014. — №8.1. — С. 13-16.

Объем: 0,36 а.л.

Статус: Опубликована

Текст статьи