Статья подготовлена в рамках реализации проекта «Разработка методов и средств создания высоконадежных компонентов и систем бортовой радиоэлектронной аппаратуры ракетно-космической и транспортной техники нового поколения» (Соглашение № 15–19–10037 от 20 мая 2015г.) при финансовой поддержке Российского научного фонда.
Комплексный подход к выявлению латентных технологических дефектов печатных плат на этапах производства РЭА
Авторы: Юрков Николай Кондратьевич, Телегин Алексей Михайлович, Калаев Михаил Павлович
Рубрика: Технические науки
Опубликовано в Молодой учёный №21 (101) ноябрь-1 2015 г.
Дата публикации: 23.10.2015 2015-10-23
Статья просмотрена: 30 раз
Библиографическое описание:
Юрков, Н. К. Комплексный подход к выявлению латентных технологических дефектов печатных плат на этапах производства РЭА / Н. К. Юрков, А. М. Телегин, М. П. Калаев. — Текст : непосредственный // Молодой ученый. — 2015. — № 21 (101). — С. 233-237. — URL: https://moluch.ru/archive/101/22766/ (дата обращения: 18.04.2024).